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Untersuchung von Kristallstrukturen: Laue-Verfahren mit digitalem Röntgensensor (XRIS)
Artikel-Nr P2541606 | Typ: Experimente
Prinzip
Laue-Diagramme werden bei Durchstrahlung von Einkristallen mit polychromatischen Röntgenstrahlen erzeugt. Die Methode wird hauptsächlich zur Bestimmung von Kristallsymmetrien und zur Orientierung von Kristallen benutzt. Durchstrahlt man einen LiF-Einkristall mit polychromatischer Röntgenstrahlung erhält man ein charakteristisches Beugungsmuster. Dies wird mit dem digitalen Röntgensensor XRIS fotografiert und ausgewertet.
Aufgaben
- Nehmen Sie das Laue-Diagramm eines LiF-Einkristalls mit Hilfe des digitalen Röntgensensors auf.
- Ordnen Sie die Laue-Reflexe den verschiedenen Netzebenen des Kristalls zu.
Verwandte Themen
- Charakteristische Röntgenstrahlung
- Bravais-Gitter
- Reziproke Gitter
- Millersche-Indizes
- Atomfaktor
- Strukturfaktor
- Bragg-Streuung
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