Cantilever, Kontaktmodus, 10 Stck, für compact AFM

Cantilever für Messungen im Kontaktmodus mit dem Rasterkraftmikroskop (09700-99).

Ausstattung und technische Daten

• Für Messungen im Kontaktmodus
• Material: Si, monolithisch
• Reflexbeschichtung: Aluminium
• Halterung: 3,4 x 1,6 x 0,3 mm, mit Justierrillen
• Spitzenradius: kleiner 10nm
• Resonanzfrequenz: 13 kHz
• Federkonstante: 0,2 N/m
• Länge: 0,45mm
• Breite: 0,05mm
• 10 Stück
• Gewicht: 0,04 kg