Erweiterungspaket Spektroskopie und Manipulation, für compact AFM

Funktion und Verwendung

Software-Paket zur Erweiterung der Messmodi des Rasterkraftmikroskopes (09700-99) mit fortgeschrittener Spektroskopie, Lithographie, Manipulation und Nutzerschnittstelle (Scripting via Visual Basic, LabView, etc.). Inklusive Proben und Cantilevern.

Ausstattung und technische Daten

• Software-Paket / Aktivierungssschlüssel für:
• Strom-Abstands-Spektroskopie
• Fortgeschrittene Spectroscopie (z.B. Spektroskopiekurven mit max. 1024 points, Stop bei spezif. Endwert, Pause vor und nach der Messung, etc.)
• Lithografie (Strukturen schreiben (Scratching, Oxidation, ...) auf Basis von Vektor- und Bitmap-Grafiken)
• Manipulation (Oxidation, Zerschneiden von Nanopartikel, Bewegen und Anordnen von Nanopartikeln)
• Erweiterung mit Nutzerschnittstelle zum Scripting (AFM kann extern angesteuert werden durch z.B. Visual Basic, Lab View, etc.)
• Set von 2 Proben:
• Probe für Scratching- CD-ROM Stück
• Probe für Manipulation - Glas Nanopartikell (incl. Silica Kolloid)
• Set von 8 Cantilevern:
• 4 x 190TapAl G (Dynamic Force Mode) für Spektroskopie und Manipulation
• 4 x CONTR (Static Force Mode) für Lithografie und Manipualtion
• Beschreibung zur Präparation und Abbildung von Glas Nanopartikeln
• Die Beschreibung zur Lithografie, Manipulation und Nutzerschnittstelle finden sich in der Bedienungsanleitung des AFM (in gedruckter Form als Teil des Gerätes bzw als pdf verlinkt im Software-Paket measure nano (Help Panel). Zusätzlich ist eine separate Beschreibung zum Scripting als pdf verlinkt.
• Beschreibungen in englischer Sprache