Cantilever, magnetisch, 10 Stck, für compact AFM

Cantilever für die Messungen von magnetischen Strukturen mit dem Rasterkraftmikroskop (09700-99).

Ausstattung und technische Daten

• für Messungen von magnetischen Proben (Magnetic Force Microscopy)
• Material: Si, monolithisch
• Reflexbeschichtung: Aluminium
• Beschichtung probenseitig: magnetisch (Pt/Cr)
• Halterung: 3,4 x 1,6 x 0,3 mm, mit Justierrillen
• Resonanzfrequenz: 75 kHz
• Federkonstante: 3 N/m
• Länge: 0,225mm
• Breite: 0,038mm
• Spitzenradius: kleiner 60nm
• 10 Stück
• Gewicht: 0,04 kg