Erweiterungspaket Materialanalyse, für compact AFM

Softwarepaket zur Erweiterung der Messmodi des Rasterkraftmikroskopes (09700-99) mit Force Modulation, Spreading Resistance und Leitfähigkeitsmessungen speziell für die Materialanalyse. Inklusive Proben und passenden Cantilevern.

Ausstattung und technische Daten

• Software Paket / Aktivierungsschlüssel für:
• Leitfähigkeitsmessungen
• Spreading Resistance
• Force Modulation
• Strom-Spannung-Spektroskopie
• Set aus 3 Proben:
• Probe für MFM (Magnetic Force Microscopy) - Digital Data Storage (DDS) Tape
• Probe für Spreading Resistance - Graphit (HOPG)
• Probe für Phasenkontrast - PS/PMMA Filme
• Set aus 8 Cantilevern:
• 4 x Multi75E-G (leitfähig beschichtet mit Pt/Cr, Dynamic Force Modus) für Force Modulation, EFM und Spreading Resistance, Leitfähigkeitsmessungen
• 4 x MFMR (magnetisch beschichtet coating, Dynamic Force Mode) für MFM
• die Bedienungsanleitung und erste Experimente finden sich im Handbuch, welches dem AFM beiliegt bzw. sind über das Help Panel im Softwarepaket measure nano als pdf verlinkt
• die PS/PMMA Probe kann auch für Kraftsprektroskopie und Manipulation/Lithographie (Scratching) verwendet werden (siehe AFM 09700-99 bzw Erweiterungspaket Spektroskopie und Manipulation (09702-00))
• Beschreibungen in englischer Sprache