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Technische Daten TESS expert Applied Science Handbook AtomicForceMicroscopy - Operating Instructions and Experiments, (in Englisch)Artikel-Nr.: 01234-02 Funktion und Verwendung Handbuch zur Bedienung des Rasterkraftmikroskopes und erster Experimente, mit Schnelleinstieg, Erklärung aller Funktionalitäten der Mess- und Analyse-Software measure nano, insbesondere Abbildung, Charakterisierung und Manipulation auf der Nanoskala. Es enthält viele hilfreiche Tipps und Tricks, Hintergrundinformationen zum Thema und ausführliche Versuchsbeschreibungen mit vielen Hinweisen, Theorie und interpretierten Beispielergebnissen. Themenfelder Schnelleinstieg, Benutzerhandbuch Rastertkraftmikroskop, Benutzerhandbuch measure nano, Experimente zu Abbildung unterschiedlicher Mikro- und Nanostrukturen, Kraftspektroskopie, Nanotechnologie, uvm. Ausstattung und technische Daten
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Robert-Bosch-Breite 10 – 37079 Göttingen – Deutschland
www.phywe.com
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